Detail publikačního výsledku
A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers
ZMEŠKAL, O.; SALYK, O.; VESELÝ, M.; DZIK, P.
Originální název
A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers
Anglický název
A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers
Druh
Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus
Originální abstrakt
This paper deals with the utilization of optical and interference microscopy for the study of thin film layers.
Anglický abstrakt
This paper deals with the utilization of optical and interference microscopy for the study of thin film layers.
Klíčová slova
refractive index, thickness of layers, interefernce microscopy, optical microscopy
Klíčová slova v angličtině
refractive index, thickness of layers, interefernce microscopy, optical microscopy
Autoři
ZMEŠKAL, O.; SALYK, O.; VESELÝ, M.; DZIK, P.
Rok RIV
2010
Vydáno
09.09.2008
Nakladatel
Asociace českých chemických společností
Místo
Brno
ISSN
1213-7103
Periodikum
CHEMICKE LISTY
Svazek
102
Číslo
S
Stát
Česká republika
Strany od
s1033
Strany do
s1036
Strany počet
4